HP-501型四探针探头

HP-501型四探针探头

产品型号:HP-501

负责人:张雅丽

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产品详情

HP-501型四探针探头

    HP系列四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

◆ 特性及规格:

1

 te制之手握式探笔

2

 球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤

3

 探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏

4

 探头使用寿命长

5

 探针间距:1mmm、1.59mm、3.8m;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ

◆ 可选配HP系列四探针探头的型号及规格:

型号
  (Model)

曲率半径
  (Radius)

压力
  (loads)

探针间距
  (spacing)

探针排列
  (Arrangement)

HP-501

0.5mm

100g

3.8mm

直线

HP-502

0.75mm

100g

3.8mm

直线

HP-503

0.1mm

150g

1mm

直线

HP-504

0.5mm

100g

1.59mm

直线

 


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